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    薄膜厚度测量解决方案

    测量范围


    导轨直线度:≤0.05μm/10mm(λ=0.25mm)
    采数间隔:0.05μm
    传感器线性精度:0.1μm+0.2% f.s
    传感器量程/分辨率比:1:262144
    辅助电子摄像单元:30万像素
    载物台X、Y向定位精度:0.02mm
    传感器Z向移动定位精度:0.02mm
    如需更多详细产品信息,请与我们联系!

    仪器特点


    采用气浮隔振机台隔离环境振动对测量的影响。
    测力控制单元采用音圈电机实时控制以保证轻测量力。
    测量时用罩壳隔离空气流动对测量的影响。
    采用电子摄像单元辅助测量调整及测量过程控制。
    配置多维电动载物台对零件测量部位进行测量。

    测量功能


    薄膜台阶形貌、粗糙度、波纹度。

    薄膜厚度测量解决方案
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